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硅腐蝕的工藝調(diào)控

欄目:MEMS工藝分析

在前面兩篇文章中,我們針對硅晶體結(jié)構(gòu)及硅晶體各向異性腐蝕的原理進(jìn)行了分析,然而在實際的硅腐蝕工藝中,硅濕法腐蝕的影響因素很多,如:硅片的質(zhì)量(晶向偏差,晶體缺陷等)、溫度、攪拌、圖形尺寸(即狹縫效應(yīng))、腐蝕劑濃度、添加劑、表面缺陷等等。

硅的濕法腐蝕在選擇腐蝕工藝和腐蝕劑時,除去選擇合適的硅片外,還需要考慮諸多因素的影響(如濃度、時間、溫度、攪拌等),需考慮以下幾方面的問題

1)腐蝕速率。較高的腐蝕速率將有效地縮短腐蝕時間,但所得到的腐蝕表

面較粗糙。

2)腐蝕選擇性。選擇性是指要腐蝕的材料的腐蝕速率與不希望腐蝕的材料

(如掩膜)的腐蝕速率的比率。一般選擇氮化硅作為掩膜。

3)腐蝕均勻性。在硅腐蝕表面各處,腐蝕速率常常不相等,造成腐蝕表面

出現(xiàn)起伏等,腐蝕尺寸比較大時表現(xiàn)尤為明顯。這與腐蝕液濃度有關(guān),反應(yīng)槽中

腐蝕液的濃度一直在變,并且各處濃度難保持一致性。

5)腐蝕表面粗糙度。不同的腐蝕方法和腐蝕劑將得到不同程度的表面粗糙

度,它與腐蝕液、腐蝕速率等密切相關(guān)。

那么在實際硅腐蝕的加工過程中如何調(diào)控想要的目標(biāo)呢?我們針對各晶面的腐蝕速率,腐蝕表面的粗糙度進(jìn)行了測量和分析。圖1給出了(100)晶面的腐蝕速率,由圖可見,不同氫氧化鉀濃度下的腐蝕速率皆隨著溫度的增大而升高。在 KOH 濃度小 30%的時候,腐蝕速率減小的較小。而當(dāng) KOH濃度大于 30%的時候,特別是達(dá)到50%的時候,腐蝕速率減小的很多。由此可知,如果要求比較高的腐蝕速率,KOH的濃度應(yīng)當(dāng)在30%左右。另外,在溫度為 60℃的時候,各種濃度下的腐蝕速率均 0.5μm/min左右,通過控制時間可以良好的控制腐蝕深度,可以用此條件制備高精度的結(jié)構(gòu);

 

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2給出了(111)晶面的腐蝕速率,由圖可見,(111)面的硅腐蝕速率同樣隨著溫度的升高而增大,也是在 KOH 濃度為 30%的時候,各種溫度下的腐蝕速率均基本達(dá)到最大。但是從整體的腐蝕速率來看,在 KOH 濃度為 30%,溫度為 110℃時,達(dá)到的最大的腐蝕速率僅僅 0.043μm/min,腐蝕速率非常低,但是該速率對于一些倒棱臺的腐蝕精度控制是非常有益的,通過該方法控制腐蝕的精度可以達(dá)到±1μm。

 

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3給出了30%氫氧化鉀濃度下腐蝕速率隨時間的變化。由圖可見,隨著時間的推進(jìn),各溫度下的腐蝕速率都有下降的趨勢,在 110℃時更為明顯。在 100℃以下時,隨著反應(yīng)的進(jìn)行,KOH 溶液中溶質(zhì)不斷減少,而溶劑變化不大,所以溶液濃度在不斷下降,從而導(dǎo)致腐蝕速率下降。而在100℃以上時,情況則剛好相反。這時,溶劑會因為溫度較高而蒸發(fā)較快,導(dǎo)致溶液濃度在不斷上升,并且在高溫下,表面硅原子與 KOH 反應(yīng)過快,會使得中間產(chǎn)物 Si(OH)4 來不及轉(zhuǎn)移而貼附在硅原子表面,如果堆積過多,將會發(fā)生聚合反應(yīng),生成不溶于水的K2SiO3 化合物殘留在硅表面,從而導(dǎo)致腐蝕速率下降

 

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4給出了不同條件下腐蝕硅后的表面粗糙度,圖左為在80℃的溫度下,30%氫氧化鉀腐蝕后的表面,圖右為在80℃下,25%氫氧化鉀腐蝕后的表面。這與上述結(jié)論相符合,30%氫氧化鉀腐蝕速率快,表面粗糙,25%氫氧化鉀腐蝕速率相對慢,表面變光滑。

 

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除了以上調(diào)節(jié)腐蝕參數(shù)的條件外,還需對腐蝕的過程進(jìn)行控制。例如,加入超聲或者攪拌,這會有益于氫氧化鉀與硅的反應(yīng)產(chǎn)物擴(kuò)散更快,從而極大保證的片內(nèi)和片間反應(yīng)濃度,增加腐蝕的均勻性。